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哈默納科基面測量諧波CSG-14-50-GH-J6

哈默納科基面測量諧波CSG-14-50-GH-J6

更新時間:2024-06-16

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簡要描述:
哈默納科基面測量諧波CSG-14-50-GH-J6可產(chǎn)生徑向彈性變形并帶有外齒的柔輪和一個裝在柔輪內(nèi)部、呈橢圓形、外圈帶有柔性滾動軸承的波發(fā)生器。
品牌其他品牌貨號123
規(guī)格CSG-14-50-GH-J6供貨周期一個月以上
主要用途機械設(shè)備應(yīng)用領(lǐng)域電子
名稱哈默納科用途半導(dǎo)體、機器人、機械設(shè)備
材質(zhì)是否進口

3)考慮選用標準化、系列化、通用化的計量器具,以便于安裝、使用、維修和更換。

   4)所選測量器具應(yīng)適應(yīng)被測工件的結(jié)構(gòu)、哈默納科基面測量諧波CSG-14-50-GH-J6材料的特殊性。如被測件的大小、形狀、重量、材料、表面粗糙度等。

   4.測量基準面的選擇

   測量基準的選擇應(yīng)遵守基準統(tǒng)一原則,哈默納科基面測量諧波CSG-14-50-GH-J6并由測量的目的而定。測量基準的選擇有以下幾種情況:

   C1)在工序檢測時,應(yīng)以工藝基面為測量基準面。通常以工件裝卡在機床夾具上的定位基面為測量基準。以正確評定和分析加工質(zhì)量。

   C2)在產(chǎn)品終結(jié)檢測時,應(yīng)以裝配基面為測量基準,以保證與設(shè)計和使用要求一致。

   C3>當由于各種原因,使工藝基面與設(shè)計基面不一致,或工藝基面受到破壞,或由于量儀測量條件的限制等,無法滿足上述兩條要求時,可選擇某一輔助基面為測量基面。選擇輔助測量基面的一般原則為:

   1)以精度較高的面作為輔助基面,也可事先加工一個面作為輔助測量基面。

   2)輔助測量基面應(yīng)保證測量的穩(wěn)定性。

   3)在被測參數(shù)較多的情況下,選擇與各參數(shù)關(guān)系密切、便于控制各參數(shù)的某一面作為測量的輔助基面。


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